EMI測試(shì)
EM5030 是一款主(zhǔ)要用于查找(zhao)幹擾源，判定(dìng)幹擾産生原(yuan)因🙇♀️的高性價(jia)比近場探頭(tou)。可用來檢測(ce)器件表面的(de)磁場方向以(yi)及強度；檢💜測(ce)磁場耦合的(de)通道，從而調(diào)整連接器位(wèi)置；檢💚測模塊(kuai)附近的磁場(chang)環境。爲了降(jiàng)低幹擾，尋找(zhǎo)到真正的⭕幹(gan)擾源或者是(shi)其傳播的途(tú)徑⛱️是非常有(you)必✨要的，通過(guo)近🙇🏻場探頭測(cè)量可以很方(fāng)便地實現定(ding)位功能。通過(guò)配合本公司(si)的EM5020前置放大(da)器可以提高(gāo)☁️系統測試靈(ling)敏💋度。大大的(de)🐕減少産品的(de)研發周期，減(jiǎn)少往返實🈲驗(yan)室的時間和(he)金錢，男生女生一起🔞差差差的是视频🌈減少不(bú)必要的錯誤(wù)測試。 EM5030近場探(tan)頭就是解決(jue)問題的最好(hǎo)利♈器！
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型(xíng)号 |
說明(ming) |
特性 |
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磁場近場探(tan)頭，可檢查10cm範(fàn)圍内的磁場(chǎng)。
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磁場近場探(tan)頭，可檢查3cm範(fan)圍内的磁場(chang)。
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磁場近場探(tàn)頭，主要用于(yú)線纜電磁洩(xie)漏測試。
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磁場(chang)近場探頭，可(ke)檢測垂直方(fāng)向發射的電(dian)磁場 。
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